微機電系統（MEMS）屬于21 世紀前沿技術，是對MEMS加速度計、MEMS 陀螺儀及慣性導航系統的總稱。MEMS 器件特征尺寸從毫米、微米甚至到納米量級，涉及機械、電子、化學、物理、光學、生物、材料等多個學科。在産品的研制方面，能夠顯著提升裝備輕量化、小型化、精確化和集成化程度，因此應用極爲廣泛。MEMS 産品制造與經典的IC 最大區別在于其含有機械部分，封裝環節占整個器件成本的大部分，如果在最終封裝之後測出器件失效不但浪費成本，還浪費了研究和開發（R&D）、工藝過程和代工時間，因此，MEMS産品的晶圓級測試在早期産品功能測試、可靠性分析及失效分析中，可以降低産品成本和加速上市時間，對于微機電系統産業化非常關鍵。

晶圓級測試技術應用于MEMS産品開發全周期的3個階段：（1）産品研發（R&D）階段：用以驗證器件工作和生産的可行性，獲得早期器件特征。（2）産品試量産階段：驗證器件以較高成品率量産的能力。（3）量産階段：最大化吞吐量和降低成本。本文分析了國內和國際MEMS晶圓級測試系統硬件和系統技術現狀，參照下表中的RM 8096和RM 8097，給出了國內現有問題的解決方案。

MEMS晶圓級測試系統硬件

1. 測試系統

正如引言所說，一般MEMS産品的成品率比IC産品要低很多，成本分析發現60%～80%的制造成本來自于封裝階段，圖1中當成品率爲50%時，采用晶圓級測試的芯片能節省30%總成本，可見采用晶圓級測試技術，可以極大降低MEMS量産成本，提高器件可靠性。

圖1 有無晶圓級測試條件下總成本對比

國際上主流的MEMS開發廠商，如美國的德州儀器（TI）、模擬器件（ADI）、飛思卡爾半導體（Freescale）、Silicon Microstructures（SMI）公司，歐洲的Robert Bosch、意法半導體（ST），日本的豐田電裝（DENSO）、歐姆龍（Omron）公司等均配備與MEMS晶圓級産品配套測試系統。

國內而言，某些高校均建立了服務于自身MEMS生産線的晶圓級測試系統，如清華大學、北京大學、複旦大學、東南大學、哈工大等；一些科研院所亦然，如中國電科49所、13所、26所、46所等。測試系統根據産品特點結構和功能各異，其中，航天新銳公司在MEMS晶圓級測試系統的研制方面優勢明顯，推出了LS1100系列MEMS晶圓片全參數自動測試系統。測試産品包括流量計、加速度計、陀螺儀等。測試系統由探針台和一系列測量儀器，用于測量晶圓片的動態參數和靜態參數。系統測試速率達到8s/芯片；圓片最大爲6 in（1 in=2.54 cm）；參量包括微小電容（最低10aF）、電阻（1Ω～1GΩ）、固有頻率（最高20kHz）、品質因數（最高200000）、帶寬（最高10kHz）共5種，准確度最高達±1%。

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